Giải quyết nguy cơ giảm hiệu suất của các tấm pin mặt trời

Tháng Mười Một 15 07:00 2020

CHLB ĐỨC – Trong dự án nghiên cứu mang tên SolarEraNet, trung tâm Nghiên cứu Năng lượng Mặt trời và Hydro (ZSW) có trụ sở tại thành phố Stuttgart, CHLB Đức đã hợp tác với các công ty chuyên về công nghệ như Resources España và CS Wismar để thực hiện một cuộc thử nghiệm nhằm kiểm tra mức độ ăn mòn điện hoá và suy giảm công suất của một loại pin mặt trời mới.

Khung kim loại của các tấm pin mặt trời thường được nối đất, dẫn đến xuất hiện sự chênh lệch điện áp giữa các mô-đun riêng lẻ và khung của chúng, khiến hiệu suất của các tấm pin giảm đáng kể trong một thời gian ngắn. Vì vậy, các tấm pin mặt trời thường được thiết kế để chống lại nguy cơ suy giảm hiệu suất (PID). Tuy nhiên, với sự gia tăng hiện tại của các điện áp hệ thống từ 1.000 lên 1.500V, bài toán về nguy cơ suy giảm hiệu suất lại trở thành thách thức lớn. Vì vậy, ZSW đã tiến hành thử nghiệm trên một loại pin năng lượng mặt trời mới, được nhúng thêm vật liệu polyolefin elastomer (POE) bên trên. Sau các cuộc thử nghiệm khắc nghiệt, mô phỏng vòng đời hoạt động trong vài thập kỷ, loại pin mặt trời này được nhận định là hầu như không có nguy cơ giảm hiệu suất ngay cả sau 60 năm hoạt động.

Đối với các nhà đầu tư, ngân hàng, nhà sản xuất hay các nhà phát triển dự án, những dự đoán dài hạn như vậy rất quan trọng trong việc đánh giá hiệu quả chi phí của các dự án năng lượng mặt trời. Ông Peter Lechner, người đứng đầu phòng thí nghiệm quang điện SOLAB của ZSW cho biết: “Với thử nghiệm mới này, chúng tôi sẽ có thể xác định mức độ PID chính xác hơn so với những gì có thể trước đây. Có thể thấy, vật liệu POE đóng vai trò rất quan trọng trong việc chống nguy cơ suy giảm hiệu suất (PID) của các tấm pin mặt trời.”

Để xem các tin bài khác về “Pin mặt trời”, hãy nhấn vào đây.

 

(Nguồn: Barbara Rusch/ Hannover Messe)

Bình luận hay chia sẻ thông tin